Исследователи из MIT создали ИИ-модель, которая определяет до шести типов точечных дефектов в полупроводниковых материалах одновременно — не повреждая образец.
Модель обучена на базе из 2000 полупроводников и фиксирует концентрации примесей от 0,2%. Результаты опубликованы в журнале Matter.В материаловедении дефекты атомной решетки — не брак, а инструмент.
Ria24.today - агрегатор самых свежих новостей ведущих новостных сайтов со всего мира. 300+ информационных ресурсов на одном сайте, экономьте своё время.
Самые свежие новости на главной странице, чтобы вы всегда были в курсе, и владели информацией, полученной из разных источников, порой, с диаметральными политическими взглядами.
Актуальные новости 24 часа в сутки, 7 дней в неделю!
©2026. Все права защищены.
habr.com