В Беларуси разработали анализатор дефектов для микроэлектроники
belta.by7 августа, Минск /Корр. БЕЛТА/. В Беларуси разработали лазерно-оптический анализатор дефектов для микроэлектроники, сообщил журналистам директор Института физики имени Б.И.
Степанова Максим Богданович во время выставки "Беларусь интеллектуальная", передает корреспондент БЕЛТА. Прибор предназначен для контроля поверхности полированных пластин, использующихся для создания микроэлектронной продукции - чипов, датчиков, в том числе для космической, военной промышленности. "Это очень важно для нашей электронной промышленности, в частности для "Интеграла".