Ученые повысили точность изображения сканирующих микроскопов
ria.ruМОСКВА, 30 апр - РИА Новости. Исследователи Томского политехнического университета (ТПУ) и Тверского государственного технического университета (ТГТУ) нашли способ повысить до 10 раз точность микроскопов с нанометровым разрешением, предложив метод компенсации колебаний иглы микроскопа, которые оказывали негативное влияние на качество изображения.
Результаты опубликованы в журнале Applied Surface Science Volume. Как сообщили сотрудники ТПУ, метод сканирующей зондовой микроскопии с нанометровым разрешением основан на получении отклика зонда на взаимодействия иглы с поверхностью.